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ecginc匝間短路檢測儀的概要
匝間短路檢測儀可以對線圈做到有效的,非破壞性測試。
其原理是將相同的脈沖電流傳遞給標準繞組(主線圈)和被測繞組(采樣線圈),比較瞬態(tài)現(xiàn)象波形,并判斷質(zhì)量。瞬態(tài)波形,即在線圈中產(chǎn)生的減衰振動波形表示電感和Q,并且可以同時確定線圈的匝數(shù)差,層厚度,或確定材料的差異等等。施加更高的脈沖電壓還可以從電暈放電中檢測出絕緣缺陷。 換句話說,可以在非常短的時間內(nèi)可以對線圈做各種檢測
在規(guī)定的時間間隔內(nèi)比較主設備區(qū)域的大小和樣本的區(qū)域大小。 。
例圖1 算出a-b區(qū)間的面積,判定它們之間差異大小。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內(nèi),即是良品。面積大小,大致與線圈中的能量損失成比例,根據(jù)損耗大小來判斷。例如當樣品線圈處于短路狀態(tài),損耗部分就會增大并且此結果可以顯示出來。
計算規(guī)定間隔內(nèi)主設備和樣本之間波形的不同部分的面積。
例圖2算出a-b區(qū)間的面積,和標準面積(圖1)相比較,根據(jù)其大小程度可以做出判定。判定標準設為%,如果被測的物判定結果在所設范圍內(nèi),即是良品。波形差面積的大小,通過L值及損失程度大小的總和來顯示。特別是L值變化有問題的時候,這個方法有效。
忽略波形差異,檢測像圖3的電暈放電等周波成分。
通過對任意規(guī)定部分的波形應用濾波處理來檢測電暈分量,并且基于其幅度確定電暈分量。判定基準設定為整數(shù)值,如果被測的物判定結果在所設范圍內(nèi),即是良品。
Laplacian是一種數(shù)字濾波方法,用于在圖像處理中檢測物體的邊緣強度,與FLUTTER VALUE方法相比,能夠使波形數(shù)據(jù)中隱藏的不連續(xù)性數(shù)值(即噪音)數(shù)據(jù)化,可以判斷準確且易于理解的放電成份。
對被測試線圈逐漸施加電壓的同時,通過AREA以及Laplacianl進行絕緣破壞判定,臨近破壞前施加的實際測試電壓作為被測線圈的破壞電壓來顯示(図4)
保存的標準波形和樣品波形可以簡單的疊加顯示,從而更能容易區(qū)分2個先前的特性差異。
DWX-01A | DWX-05A | DWX-10 | ||
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施加電壓?電壓可調(diào)檔位 ?施加能量 ※ 抵抗負荷為1KΩ | 50V~1000V (10V檔) 最大5m焦耳 | 500V~5000V (100V檔) 最大0.12焦耳 | 1000V~10000V (100V檔) 最大0.5焦耳 | |
測試電感范圍 | 10μH以上 | 10μH以上 | 50μH以上 | |
采樣?速度 / 內(nèi)存 | 8bit/10nano-sec.(100MHz) / 8192-Byte | |||
采樣?范圍 (WIDTH) | -4,-3,-2,-1,0,1,2,3,4,5 10個范圍(0 DW系列互換) | |||
測試輸入回路 | 電阻分壓(5MΩ) | |||
畫面顯示,波形顯示范圍 | 640×480(VGA),8.4寸彩色液晶,4色表示 512×256 | |||
判定方法 | 和標準波形比較 根據(jù)波形面積,波形差面積,放電量進行比較判定 線圈絕緣破壞電壓測試功能 | |||
標準波形 儲存容量 | 主機擴張 | 196種(14種/14頁) Compact Flash Memory700中(14種/50頁) | ||
外部接口 | 并行口I/O(Start,Reset,OK,NG,Busy,Master等) RS-232C(測試控制 測試數(shù)據(jù)) 打印機板(畫面硬拷貝等) EtherNet適配器(可選) | |||
附件 | 測試電纜線1.5M 1根,電源線1根(付3P轉(zhuǎn)換頭) Compact Flash Memory 1個,并行口I/O連接器1個 使用說明書?測試成績書 1份 | |||
使用條件 | 0℃~40℃ 電源電壓:100V~240V±10%(出廠時工廠設定) | |||
外形尺寸 (不含Carry Handle) ?重量 | 345(W)×185(H)×370(D) 約10Kg | 345(W)×325(H)×370(D) |