您好,歡迎來(lái)到秋山科技(東莞)有限公司!
Product center
軟薄膜和薄膜用臺(tái)式離線電容式測(cè)厚儀介紹
模型 | TOF-C2 *TOF-C 后繼型號(hào) |
---|---|
測(cè)量方法 | 非接觸式/電容式 |
測(cè)量目標(biāo) | 薄膜、粘性保護(hù)膜、易吸灰塵的薄膜 |
測(cè)量原理 | 電容式 |
高測(cè)量分辨率
由于它是一種非接觸式方法,因此非常適合用接觸式方法難以測(cè)量的薄膜。
即使在粗糙的表面上也可以進(jìn)行測(cè)量。
定量測(cè)量
操作簡(jiǎn)單(具有介電常數(shù)自動(dòng)設(shè)定功能)
測(cè)量厚度 | ~500μm |
---|---|
測(cè)量長(zhǎng)度 | 10~10000mm |
測(cè)量間距 | 1毫米~ |
最小顯示值 | 0.01微米 |
電源電壓 | 交流100V 50/60Hz |
工作溫度限制 | 5~40℃(測(cè)量時(shí)溫度變化1℃以?xún)?nèi)) |
濕度 | 35-80%(無(wú)冷凝) |