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便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX"的原理及運(yùn)用介紹
X 射線熒光光譜法 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法
全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于,光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面,因此不會穿透樣品臺基板,可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線,因此可以進(jìn)行超痕量分析。
含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜
30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜
【特征】 ●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度 ●主機(jī)總重僅8kg ●可進(jìn)行ppm至ppb級別的分析 ●無需液氮或冷卻水
[應(yīng)用] ●用于測試井水和河流 ●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水 ●用于食品、制藥、法醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的現(xiàn)場分析
毛發(fā)成分分析
藥品分析(感冒藥)
雨水分析
混合標(biāo)準(zhǔn)溶液的分析
指紋成分分析
空氣顆粒物分析
測量原理 | 全內(nèi)反射X射線熒光光譜法 |
測量目標(biāo) | 液體、飲用水、土壤滲濾液、污水等 |
測量元件 | 13Al~92U |
狹縫機(jī)構(gòu) | X射線路波路 |
樣品臺 | 石英光學(xué)平板 |
設(shè)備重量 | 約8公斤 |
樣品室氣氛 | 氣氛 |
X射線額定輸出 | 0-48kV,最大0.2mA /48-50kV,最大0.175mA |
探測器 | 電子冷卻 SDD |
計數(shù)電路 | 數(shù)字處理方法(數(shù)字信號處理器) |
測量條件 | 溫度:5-27℃ 濕度:20-75% 電源:AC100V,5A 設(shè)備:D級安裝 |
其他選項 | 噴墨彩色打印機(jī)、鼠標(biāo)等 |
*引進(jìn)OURSTEX200TX時,需提前向勞動基準(zhǔn)監(jiān)督署通報。