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產(chǎn)品型號: S-2440 modelⅡ
所屬分類:光源
產(chǎn)品時間:2024-09-06
簡要描述:日本nihonika光譜輻射光度計(jì)S-2440 modelⅡ作為學(xué)術(shù)領(lǐng)域中測量光的標(biāo)準(zhǔn)測量儀器!實(shí)現(xiàn)高精度和高精度測量
日本nihonika光譜輻射光度計(jì)S-2440 modelⅡ
作為學(xué)術(shù)領(lǐng)域中測量光的標(biāo)準(zhǔn)測量儀器!
實(shí)現(xiàn)高精度和高精度測量!
特長
[新設(shè)計(jì)的電路板]顯著降低了引起測量誤差的溫度依賴性和噪聲水平。 * 1新開發(fā)的電路板可控制所有這些電路板。這是一種基于``不從設(shè)計(jì)水平上產(chǎn)生噪聲''而不是``抑制產(chǎn)生的噪聲''的新思想設(shè)計(jì)的降低技術(shù)。 * 1。
[優(yōu)化用于太陽模擬器測量的設(shè)計(jì)]根據(jù)陽光和太陽模擬器的輻射波長優(yōu)化靈敏度特性。改進(jìn)了UV / NIR中的SN。
[與脈沖光的同步測量]在我們常規(guī)模型的脈沖光測量中,只能獲取脈沖光入射后的數(shù)據(jù),但是本設(shè)備對脈沖光測量模式(事件觸發(fā)模式)使用了一種新方法。我采納了。在事件觸發(fā)模式下,通過組合新設(shè)計(jì)的電路板和軟件,可以在脈沖光入射之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行掃描,并且可以在任何時間檢索數(shù)據(jù)。換句話說,代替在脈沖光發(fā)射之后的精que點(diǎn)處的單點(diǎn)測量,可以在發(fā)射之前和之后獲得寬范圍的脈沖波形的發(fā)射轉(zhuǎn)變。測量開始時的定時信號由安裝在反射擴(kuò)散器上的光電二極管檢測。另外,觸發(fā)輸入檢測電平可以在0 sun至1 sun的強(qiáng)度范圍內(nèi)任意設(shè)置。
根據(jù)發(fā)射波長優(yōu)化靈敏度特性,測量波長范圍寬至300至1,100 nm,硅基染料敏化有機(jī)薄膜覆蓋太陽能電池的波長范圍
橫軸表示波長(nm),縱軸表示光子通量密度(μmolm-2s-1),光子通量密度也可以相對值(%)顯示。
可以任意波長范圍并單獨(dú)顯示光子數(shù)量的總和,從而可以對影響光合作用效率和光合作用的光源進(jìn)行測量,評估和預(yù)測。
不僅顏色條,而且顏色等級都可以顯示在光譜本身上,并且可以根據(jù)需要通過更改RGB值來更改顏色。
至于頻譜,只能將圖形粘貼到另一個軟件中,例如Excel或Word。
用日本電表檢查中心建立的標(biāo)準(zhǔn)輻照度標(biāo)準(zhǔn)燈泡進(jìn)行校準(zhǔn),并且還可以根據(jù)JISC8912和JISC8933評估用于太陽能電池測量的太陽能模擬器的光譜接近度。這是一種非常高精度和高清晰度的測量儀器。
可以基于高精度追溯系統(tǒng)進(jìn)行驗(yàn)證的產(chǎn)品。
日本nihonika光譜輻射光度計(jì)S-2440 modelⅡ
仕様
名稱 | 分光放射光量子計(jì) |
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型式 | S-2440 modelⅡ |
測定波長範(fàn)囲 | 300 ~ 1,100nm |
測定データ間隔 | 1nm |
スリット波長幅 | 5nm |
露光時間 | 380 ~ 780 nm |
入射光學(xué)系 | 反射型拡散板付オプチカルファイバ (L=2.4m)? 反射板材質(zhì) (PTFE、φ40mm) ? オプチカルファイバ (石英製、コアφ0.8mm、L=2.4m) |
対応OS | Windows 8 / 7 / Vista(日本語版 32bit、64bit 版)(パソコン別途ご用意願います) |
処理回路 | AD 変換回路 16bit |
インタフェース | USB 2.0 |
データ出力形式 | テキスト (CSV 形式) (データは 1nm 毎に出力) |
データ保存數(shù) | 大 1000 データ |
使用溫濕度範(fàn)囲 | 10 ~ 35℃、相対濕度 80% 以下 / 結(jié)露なきこと |
本體電源 | DC12V 2A |
供給電源 | AC100 ~ 240V 50/60Hz ( 専用アダプタ LTE24E-S2-3) |
本體形狀 | H190×W210×D270(㎜) / 約 5 ㎏ |
オプション | 標(biāo)準(zhǔn)光源ユニット、 反射型拡散板固定ユニット (上向き照射タイプのソーラシミュレータ用) ファイバ長変更、再校正対応、トレーサビリティ対応書類 |