日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
*與工業(yè)技術研究院共同開發(fā)?
圖1是從正電子進入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產生陽離子時發(fā)射的γ射線與在一對電子消失時產生的γ射線之間的時間差(正電子壽命)的技術。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高,正電子壽命會增加。
我們已經開發(fā)了一種反巧合(AC)系統(tǒng),該系統(tǒng)可區(qū)分發(fā)射到樣品另一側的正電子信號。1) (圖1)
通過采用交流系統(tǒng),可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此,即使只有一個測試件,也可以進行測量。此外,它可以安全使用,而無需麻煩地處理輻射源。
1) M.Yawakiki等人JJAP 50(2011)086301
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
正電子源 | Na-22(?1 MBq) |
計數率 | 約100 cps |
測量范圍 | 40 ns(與金屬,半導體和聚合物兼容) |
配飾 | ? HDO4024(Teledyne LeCroy制造的DSO), (HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]) ·程序 ·筆記本電腦等。 |