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產(chǎn)品型號：
所屬分類：超聲波測厚儀
產(chǎn)品時間：2024-09-09
簡要描述：日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
使用軟X射線（軟X射線）的厚度計（膜厚度計）。以非接觸方式（軟X射線）測量薄片和板狀物體的厚度和密度（基本重量）。通過直接與參考物質(zhì)比較來計算厚度和密度（基本重量），而不是直接測量厚度。
通常，為了測量片材的寬度方向上的厚度分布，檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并進行測量。通常使用激光位移計作為不接觸地測量厚度的手段，但是如果將激光位移計安裝在掃描儀上，則其傳送的精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于激光位移計的精度，從而導(dǎo)致結(jié)果。高精度測量是困難的。
另一方面，在諸如X射線厚度計之類的通過透射衰減來估計厚度的方法中，測量了空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減，但是由于樣品引起的衰減很大。比空氣的厚度大，運輸?shù)挠绊憙H表現(xiàn)為空氣層厚度的變化，并且影響很小。因此，可以高精度地進行測量。
軟X射線測厚儀的一般功能
與傳統(tǒng)的軟X射線測厚儀相比，我們的軟X射線測厚儀的功能
采用
日本nanogray X射線測厚儀SX-1100系列
X射線測厚儀SX-1100的規(guī)格 | |
| 物品 | 規(guī)格 |
|---|---|
| 姓名 | X射線測厚儀SX-1100 |
| 測量方法 | X射線透射法 |
| 檢測方式 | 閃爍檢測器方法 |
| 被測物 | 根據(jù)測量目標(biāo)（如薄膜和箔紙）的z佳設(shè)計 |
| 測量間距 | 標(biāo)準(zhǔn)2mm（可提供更細(xì)的間距） |
| 掃描寬度 | 標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm（也可提供其他寬度） |
| 掃描速度 | 15-300毫米/秒（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 框架結(jié)構(gòu) | O型等各種鏡框 |
| 光斑尺寸 | 約φ7.5mm（標(biāo)準(zhǔn)）（工作時） |
| X射線源 | 70 x 83毫米x 250毫米（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 檢測單元 | 70 x 83毫米x 220毫米（標(biāo)準(zhǔn)） |
| 電源 | 100V單相1kVA |
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