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產(chǎn)品型號: Profilm 3D
所屬分類:面包體積測定
產(chǎn)品時(shí)間:2024-09-10
簡要描述:日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D它是一個(gè)使用白光干涉技術(shù)的系統(tǒng),可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內(nèi)的三維形狀。Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統(tǒng)產(chǎn)品更緊湊、更便宜。
日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D
它是一個(gè)使用白光干涉技術(shù)的系統(tǒng),可以無接觸地測量包括臺階和粗糙度在內(nèi)的三維形狀。
Profilm 3D 適用于測量小樣品,涵蓋了測量 3D 形狀所需的所有功能,并且比傳統(tǒng)產(chǎn)品更緊湊、更便宜。
各種測量模式,包括適合高精度測量微米級臺階和形狀的垂直掃描干涉測量法 (WLI) 和適合測量納米級形狀和粗糙度的相移干涉測量法 (PSI)。包括標(biāo)準(zhǔn)步驟樣品在內(nèi)的一切都是標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,包括用于放大物鏡的左輪、自動(dòng)載物臺以及便于操作、分析和管理測量數(shù)據(jù)的軟件。
日本filmetrics 3D 表面形狀測量系統(tǒng)Profilm 3D
半導(dǎo)體 | 晶圓凸塊、CMP焊盤等 |
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醫(yī)療領(lǐng)域 | 注射針、人工關(guān)節(jié)、支架等 |
安裝板 | 銅線、凸點(diǎn)、透鏡等 |
垂直掃描白光干涉測量法 (WLI) | 相移干涉測量 (PSI) | |
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測量范圍 | 50 納米 – 10 毫米 | 0 – 3 微米 |
準(zhǔn)確性 | 0.7% | —— |
再現(xiàn)性 | 0.1% | —— |
反射范圍 | 0.05% – 100% | 0.05% – 100% |
XY自動(dòng)載物臺 | 100mm x 100mm |
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Z軸驅(qū)動(dòng)范圍 | 100mm |
壓電驅(qū)動(dòng)范圍 | 500微米 |
掃描速度 | 12微米/秒 |
相機(jī) | 2592 x 1944(500 萬像素) |
體重 | 15公斤 |
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